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理学能量色散X射线荧光分析仪NEX DE
分析软件PDXL的定性分析的自动搜索设置屏幕,您可以阅读NEX DE的测量结果文件。 NEX DE获得的元素信息反映在搜索条件中。可以从Na到U进行分析 它可以从研究和开发到过程控制一般使用
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理学能量色散型X射线荧光分析仪 NEX CG
从钠(Na)至铀(U);含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量(wt%)。 日本理学NEX CG功能多样,可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品,到固态、金属、泥浆
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理学能量色散X射线荧光光谱仪NEX QC
NEX QC为小型轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小,只需轻轻一按即可进行测量。即使是对分析不熟悉的人员也可以轻松进行处理
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Profilm 3D光学轮廓仪
Profilm3D 光学轮廓仪 低成本 – 高精度Filmetrics让3D光学轮廓测量的价格变得更加能够接受。Profilm3D使用先进的垂直干涉扫描(WLI)与高精度的相位干涉(PSI)技术
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理学NEX QC 空气检测能量色散XRF
研制现状简述了多种新型的能量色散型X射线荧光光谱仪.并对其发展趋势与前景进行了展望NEX QC为小型轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小,只需
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光学型轮廓仪
SJ5900粗糙度轮廓仪一体机专业为非球面镜片的大曲面测试,该仪器可以对零件表面,尤其是大范围曲面,如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测.
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纳米表面轮廓仪
纳米表面轮廓仪 纳米表面轮廓仪IMOS纳米表面轮廓仪实现了精确、定量、iso兼容、非接触式表面测量和表征微和纳米尺度的表面特征,在短短几秒钟内可捕获多达200万
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激光扫描轮廓仪
技术参数: 技术参数 Scan modules Measuring range in x,y-direction [mm] Resolution in x
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理学NEX DE 落地式能散型XRF
以阅读NEX DE的测量结果文件。 NEX DE获得的元素信息反映在搜索条件中。可以从Na到U进行分析 它可以从研究和开发到过程控制一般使用。通过FP方法进行无标准分析,由于批量FP方法和薄膜
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理学NEX DE 能量色散XRF 粉末样品分析
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